●IC封装、空PCB变形测量；
● 钢网的通孔尺寸和形状测量；
● PCB焊盘、丝印图案的厚度和形状测量；
● 提供刮刀压力预测功能、印刷制程优化功能；
● 芯片邦定、零件共平面度、BGA/CSP尺寸和形装测量；

原理说明：
激光头发射激光经过被测物体表面，
物体表面不同高度被反射到镜头，
经过图像处理转化为数据。

与选择Mark方法一样，找到等测试的锡点，选中后点击工具栏的按钮，弹出如下的对话框，提示输入新增点的名字。

确定之后VIEW视图就会出现扫描框。
为尽可能消除PCB翘曲变形对测量结果的影响, 本测试系统要求对每一个测试目标取一个基准测量面.
基准测量面一般由三个靠近测量目标的参考点构建.用鼠标分别拖动三个基准圆点到基准平面上（如图基准点是在PCB绿油表面）。

按以上操作不断添加你要测试的锡点位置，完毕后，点击工具栏上的按钮打开相机，选择左边测试模式的自动选项，点击测度即可。

测试数据内容
● 测试系统在测试完成后自动显示以下测量结果:
● 平均锡膏厚度;
● 最大/最小锡膏厚度;
● 锡膏体积;
●实际印刷锡膏释放率;